Curso Básico de SEM con aplicaciones de EDS

        Se dictará del 16 al 27 de Mayo de 2016 en el LAMARX un curso de 80hs destinado a empresas y organismos nacionales e internacionales. El objetivo del curso es capacitar a los asistentes para la utilización de la técnica de microscopía electrónica de barrido con capacidad analítica (EDS).

        El mismo estará a cargo del Dr. Alberto Riveros (LAMARX, FaMAF-UNC) y contará con la colaboración del Dr. Jorge Trincavelli (IFEG, FaMAF-UNC), del Ing. Carlos Peralta (Nano Systems Argentina, Carl Zeiss Microscopy) y del Ing. Jorge Vilchez (LAMARX, IFEG).

        La inscripción cierra el 9 de Mayo de 2016. El cupo es de 10 personas y el arancel es de 1000 USD.

        Contacto: Alberto Riveros: betoriveros67@gmail.com, lamarx.famaf.unc.edu.ar

                 

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