Difracción de RX

        La difracción de rayos x es una técnica para el estudio de la estructura cristalina de los materiales. A partir de un patrón de difracción de Rayos X pueden inferirse distintos parámetros del material tales como estructura cristalina, parámetros de red, fases presentes, tamaño de grano y tensiones residuales entre otros.

        El laboratorio posee un Difractómetro Philips PW1800/10 con geometría , monocromador de grafito, tubo con ánodo de cobre y parámetros de trabajo estándar de 40kV y 30mA.