El microscopio FE-SEM Σigma fue adquirido con fondos de la FaMAF (50%) y de la UNC (50%). De este proyecto participaron las siguientes dependencias: Facultad de Ciencias Exactas, Físicas y Naturales, Facultad de Filosofía y Humanidades, Facultad de Odontología, Facultad de Matemática Astronomía y Física y Facultad de Ciencias Químicas, a través cátedras y de distintos grupos de investigación.

Características Técnicas:

Este microscopio electrónico de Barrido de alta resolución posee un cañón de electrones de emisión de campo tipo Schottky optimizado para trabajar en altas y bajas corrientes. Cuenta con detectores de electrones secundarios y retrodifundidos in lens (además de un detector de secundarios convencional), que permiten relevar simultáneamente información topográfica y de contraste químico.

La óptica se basa en lentes con bajas aberraciones esférica y cromática y en una lente objetivo cónica de gran ángulo (80°) que permite inclinaciones importantes de la muestra con pequeñas distancias de trabajo, adecuadas para la detección de un sistema EBSD. Esta lente objetivo con mínima generación de campos magnéticos sobre la muestra permite imágenes de alta resolución aun en muestras magnéticas. El sistema óptico conjunto permite un gran campo de visión con magnificaciones desde 12 X a 900.000 X.

La corriente del haz de electrones sobre la muestra para la máxima resolución puede llegar a 4 pA, y para 10 nA se logra una estabilidad mejor que 0,2 % por hora, lo que permite operar el microscopio aun en forma automática durante prolongados períodos de tiempo en mediciones con EDS, WDS y EBSD.

El voltaje acelerador puede variar entre 0,1 kV y 30 kV en pasos de 10 V. La resolución espacial operando a 15 kV y a la distancia de trabajo (WD) mínima es de 1,7 nm o mejor, mientras que a 1 kV y para la mínima WD es de 2 nm.

La cámara del microscopio posee 6 puertas con elementos auxiliares para posicionar de manera óptima los espectrómetros EDS y WDS (y en el futuro EBSD), permitiendo obtener imágenes con buena resolución espacial sin necesidad de refocalizar. Una cámara CCD con iluminación infrarroja facilita el posicionamiento de las muestras.

Un goniómetro totalmente eucéntrico en todos los ejes de la platina permite movimientos completamente motorizados en 5 ejes. Se alcanzan desplazamientos laterales de hasta 130 mm, y verticales de hasta 50 mm. La muestra puede rotarse 360° e inclinarse (tilt ) entre -3° y +70°. Además cuenta con una platina de enfriamiento por efecto Peltier, abarcando temperaturas entre -30°C a +50°C.

El sistema de control del instrumento se realiza a través de una computadora personal con una interfase gráfica de 32 bits. La resolución de las imágenes es de 3072×2304 pixels, y pueden presentarse en cuadros múltiples, permitiéndose el registro simultáneo de imágenes adquiridas con distintos detectores.

Servicios Disponibles:

  • Fotografías topográficas y de contraste químico de alta resolución: La emisión de electrones secundarios por la muestra permite hacer imágenes topográficas con magnificaciones que van desde 12 X hasta 900.000 X. Con electrones retrodifundidos se pueden hacer imágenes de contraste químico que permiten diferenciar áreas con pequeños cambios de composición química. En estos casos la magnificación va desde 12 X a 100.000 X.
  • Preparación de muestras:Para la observación de las muestras en el FE-SEM, éstas pueden ser metalizadas o no, de acuerdo con la energía con que se irradia. Se preparan sobre soportes adecuados utilizando cintas y pinturas conductoras de doble faz de carbono, cobre, plata, etc.
Error | Lamarx

Error

El sitio web encontró un error inesperado. Vuelva a intentarlo más tarde.