Microscopía de barrido con EDS, EBSD STEM (FE-SEM Carls Zeiss Σigma)
Utilizado para la confección de imágenes de topografía con magnificaciones de hasta 500.000 X, de contraste químico, mapas de composición, cuantificaciones elementales, difracción de electrones (mapas cristalográficos) y otros. Interés especial en áreas relacionadas con metalmecánica, aeronáutica, biología, geología, alimentos, salud, farmacéuticas, control de calidad, peritajes, construcción, etc.
Este equipo y algunos de sus accesorios fueron adquiridos con fondos de la Facultad de Matemáticas, Astronomía, Física y Computación (FaMAF-UNC) y completado con otros accesorios con fondos del Sistema Nacional de Microscopía. Fue comprado en el año 2009 y puesto en funcionamiento en el año 2010.
Operadores:
- Dra. Brunetti, Verónica
- Dra. Limandri, Silvina Paola
- Dra. Oliva, Fabiana Yolanda
- Dr. Trincavelli, Jorge Carlos
- Lic. Arciniegas Jaime, Diana
- Lic. Raviolo, Sofía
- Lic. Aprea, Soledad
- Geol. Espeche, María José