Microscopía de barrido con EDS, EBSD STEM (FE-SEM Carls Zeiss Σigma)

Microscopio-Electronico-de-Barrido-SEM-Carl-Zeiss-Sigma-scaled

Utilizado para la confección de imágenes de topografía con magnificaciones de hasta 500.000 X, de contraste químico, mapas de composición, cuantificaciones elementales, difracción de electrones (mapas cristalográficos) y otros. Interés especial en áreas relacionadas con metalmecánica, aeronáutica, biología, geología, alimentos, salud, farmacéuticas, control de calidad, peritajes, construcción, etc.

Este equipo y algunos de sus accesorios fueron adquiridos con fondos de la Facultad de Matemáticas, Astronomía, Física y Computación (FaMAF-UNC) y completado con otros accesorios con fondos del Sistema Nacional de Microscopía. Fue comprado en el año 2009 y puesto en funcionamiento en el año 2010.

Operadores:

  • Dra. Brunetti, Verónica
  • Dra. Limandri, Silvina Paola
  • Dra. Oliva, Fabiana Yolanda
  • Dr. Trincavelli, Jorge Carlos
  • Lic. Arciniegas Jaime, Diana
  • Lic. Raviolo, Sofía
  • Lic. Aprea, Soledad
  • Geol. Espeche, María José