Microscopía de barrido con EDS, EBSD - FE-SEM (Carl Zeiss Σigma y Crossbeam 550)
Utilizado para la confección de imágenes de topografía con magnificaciones de hasta 500.000 X, de contraste químico, mapas de composición, cuantificaciones elementales, difracción de electrones (mapas cristalográficos) y otros. Interés especial en áreas relacionadas con metalmecánica, aeronáutica, biología, geología, alimentos, salud, farmacéuticas, control de calidad, peritajes, construcción, etc.
Este equipo y algunos de sus accesorios fueron adquiridos con fondos de la Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación (FaMAF-UNC) y completado con otros accesorios con fondos del Sistema Nacional de Microscopía. Fue comprado en el año 2009 y puesto en funcionamiento en el año 2010.
Microscopio Crossbeam 550 marca Carl Zeiss de alta resolución (menor que un nanómetro) con haces de iones para procesamiento de muestras in situ (FIB), con detectores In-Lens, espectrómetro EDS, con módulo de transmisión y módulo de nano-tomografía para muestra de volumen pequeñas. Este equipo posee además, una plataforma que permite acoplar varios espectrómetros en paralelo (WDS, STEM, RAMAN, Cátodo Luminiscencia, SIMS), para ampliar la base de trabajos de investigación y servicios.
Este equipo se ha adquirido con el programa Equipar Ciencia III y aportes de la UNC.
Operadores:
- Dra. Bercoff, Paula
- Dra. Brunetti, Verónica
- Dra. Limandri, Silvina Paola
- Dr. Trincavelli, Jorge Carlos
- Ing. Arce, Martina
- Dra. Arciniegas Jaimes, Diana
- Ing. Bocco, Fernando
- Dr. Euti, Esteban
- Dra. Farías, Eliana
- Lic. García, Sebastián
- Lic. Mutal, Rubén
- Ing. Vilchez, Jorge
- Dr. Zeballo, Fernando